近日，浙江省市場(chǎng)監(jiān)督管理局正式公布了首屆浙江省知識(shí)產(chǎn)權(quán)獎(jiǎng)的獲獎(jiǎng)名單，我司核心發(fā)明專利“ZL202011244319.0晶圓的測(cè)試方法、晶圓測(cè)試機(jī)、電子裝置和存儲(chǔ)介質(zhì)”（以下簡(jiǎn)稱發(fā)明專利）榮獲專利知識(shí)產(chǎn)權(quán)獎(jiǎng)三等獎(jiǎng)，此獎(jiǎng)項(xiàng)是我司獲得的第一個(gè)專利專項(xiàng)獎(jiǎng)。

浙江省知識(shí)產(chǎn)權(quán)獎(jiǎng)是浙江省首次以省政府名義設(shè)立的全門類知識(shí)產(chǎn)權(quán)綜合獎(jiǎng)，每3年評(píng)審1次，下設(shè)浙江知識(shí)產(chǎn)權(quán)大獎(jiǎng)、專利獎(jiǎng)、商標(biāo)獎(jiǎng)、版權(quán)和其他知識(shí)產(chǎn)權(quán)獎(jiǎng)，旨在表彰激勵(lì)在知識(shí)產(chǎn)權(quán)強(qiáng)國建設(shè)先行省工作中做出突出貢獻(xiàn)的單位和個(gè)人。獲此獎(jiǎng)項(xiàng)，是對(duì)我司知識(shí)產(chǎn)權(quán)建設(shè)情況的認(rèn)可與肯定。

本發(fā)明專利技術(shù)由我司自主研發(fā)獲得，從一種全新的角度提出了一種晶圓的測(cè)試方法，解決了在晶圓測(cè)試領(lǐng)域出現(xiàn)的MAP圖刷新效率低、裸片測(cè)試效率低的問題, 具有極強(qiáng)的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，提升了我司在測(cè)試晶圓市場(chǎng)的產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力。同時(shí)，本發(fā)明專利也可用于涉及大數(shù)據(jù)查找算法的場(chǎng)景，市場(chǎng)前景廣，競(jìng)爭(zhēng)力強(qiáng)。

本發(fā)明專利具有較強(qiáng)的技術(shù)實(shí)用性，我司已成功對(duì)本發(fā)明專利進(jìn)行技術(shù)轉(zhuǎn)化并大規(guī)模應(yīng)用，目前已成功應(yīng)用于CTA8280系列的模擬測(cè)試機(jī)，未來也可用于其它測(cè)試晶圓和刷新MAP圖的產(chǎn)品，如SoC測(cè)試機(jī)等。

本發(fā)明專利的發(fā)明人為董雨晴、副總經(jīng)理鐘鋒浩、鐘丹彪，三位長(zhǎng)期專注于半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的研發(fā)工作，為我司在測(cè)試領(lǐng)域的技術(shù)創(chuàng)新與積累做出了卓越貢獻(xiàn)。在此次獎(jiǎng)項(xiàng)申報(bào)過程中，他們竭盡所能提供技術(shù)指導(dǎo)，最終獲獎(jiǎng)也離不開他們的大力支持！

近年來，我司大力推進(jìn)知識(shí)產(chǎn)權(quán)強(qiáng)企建設(shè)，制定了知識(shí)產(chǎn)權(quán)創(chuàng)造、運(yùn)用、保護(hù)、管理和服務(wù)等一系列知識(shí)產(chǎn)權(quán)管理機(jī)制，充分保障知識(shí)產(chǎn)權(quán)工作落實(shí)到位。我司圍繞核心技術(shù)構(gòu)建專利池，并在外圍有計(jì)劃的進(jìn)行專利布局，形成了一道道專利網(wǎng)，對(duì)公司的核心技術(shù)進(jìn)行了有效保護(hù)，促進(jìn)了公司高價(jià)值專利布局的戰(zhàn)略實(shí)施。

未來，我們將繼續(xù)全面深入開展知識(shí)產(chǎn)權(quán)工作，落地中長(zhǎng)期發(fā)展規(guī)劃，為實(shí)施創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)發(fā)展戰(zhàn)略提供有力支撐，同時(shí)也為“把長(zhǎng)川科技打造成為國際一流的集成電路裝備供應(yīng)商”的戰(zhàn)略目標(biāo)提供強(qiáng)力保障。